作為德國斯派克分析儀器公司最新推出的旗艦級產品，SPECTRO ARCOS代表了電感耦合等離子體發射光譜儀(ICPOES)技術的新高度，它能精確分析金屬、化學品、石化產品和其他材料的元素組成，為工業和科研領域的廣大用戶提供準確可靠的分析結果。

我們參考了來自全球客戶的廣泛意見，結合了諸多成熟技術，持續改進，對SPECTRO ARCOS進行了多項改良，所有改進都旨在保證為用戶提供準確可靠的分析結果。我們不僅改善了儀器性能和分析速度，還強化了靈活性和易用性。新的SPECTRO ARCOS通過關鍵的改進，提供了更大的靈活性和可用性，同時大大降低了長期運行成本和擁有成本。

DSOI的是一種增強型垂直等離子體徑向觀測技術，兩個光學接口捕獲等離子體兩側發出的光，有效提高了靈敏度，并消除了市場上其他垂直炬管雙觀測模式可能存在的污染、基體耐受等問題。如果無需DSOI及MultiView的機型，用戶可選擇標準的SPECTRO ARCOS垂直炬管徑向等離子觀測 (SOP) 版本。經典的徑向、單側觀測接口，可確保良好的數據穩定性和精密度。

眾所周知，軸向等離子觀測靈敏度高，常用于痕量分析；徑向等離子觀測則非常適合高基體和有機樣品。SPECTRO ARCOS電感耦合等離子體發射光譜儀的MultiView結構，操作人員能在90秒內將炬管從徑向切換成軸向，反之亦然！為了提高配置的靈活性，MultiView現在還提供了DSOI選項。只需幾分鐘，用戶就能簡單地完成結構切換，從軸向觀測轉變成徑向觀測。通過DSOI選項，MultiView變得更加全能，為徑向模式提供了更高的靈敏度。

SPECTRO ARCOS配置了新型互補金屬氧化物半導體(CMOS)整列檢測器，這一檢測器的性能遠超傳統的電荷耦合(CCD)檢測器。即使在極端光強下，CMOS技術也能消除過度曝光，仍然可讀取痕量元素的弱信號，不受相鄰的高強度譜線的影響，實現更寬的動態范圍，覆蓋從熱等離子體到低溫等離子體應用。檢測器無需冷卻，即使陣列中某段出現故障，其他部分仍能正常運行，單單更換陣列中某段的成本顯著低于必須整塊更換的CCD檢測器。

SPECTRO ARCOS采用斯派克優化的帕邢-龍格(ORCA)光學系統，有效規避了市場上其他光譜儀基于中階梯光柵+棱鏡色散結構的問題，減少了反射鏡的使用，提供更直接、高亮度的光路，最大程度減少了光損失。鑒于此種光學結構，SPECTRO ARCOS可在130至770納米(nm) 的寬光譜范圍內提供穩定的分辨率，并具有180 nm以下業內最佳的透光度。更寬的波長范圍使用戶做方法開發時更容易，特別是分析譜線密集的高純金屬基體樣品，數據準確度更高。

SPECTRO ARCOS電感耦合等離子體發射光譜儀憑借其全譜直讀的功能和強大的發生器/檢測器性能，可以在短短30秒內完成簡單基體樣品的分析。雖然其他光譜儀可能難以做到一分鐘完成一個樣品的分析，但SPECTRO ARCOS用戶，無論何種基體，都可以在較短時間內分析更多樣品，并確保數據的完整和可追溯。

此外，SPECTRO ARCOS 電感耦合等離子體發射光譜儀配備2000 W固態橫向擴散金屬氧化物半導體（LDMOS）發生器，可獲得業界最高的功率。無需光路吹掃的UV-PLUS密封氣體凈化技術可實現整機快速啟動，每年可節省約3500美元（3000歐元）的氣體消耗。作為唯一的全風冷ICP-OES等離子體發射光譜儀，省去了外部水冷卻系統的成本和維護。全新的軟件更為直觀，確保了無與倫比的易用性、速度和數據可追溯性。整機更強的易用性表現在操作簡便、進樣方式簡化、日常維護更便捷。

根據等離子體觀測技術和元素波長范圍的選擇，新的SPECTRO ARCOS有六種版本。例如，全新DSOI等離子體觀測結構提供了兩倍于傳統徑向觀測的靈敏度，降低了垂直雙觀測結構的復雜性和成本。MultiView選項允許用戶輕松地在真正軸向或真正徑向觀測之間切換。所有型號均采用符合人體工程學的光滑底盤，適合任何標準實驗室工作臺，并可容納眾多的自動進樣器/樣品引入系統。儀器配置可選項還包括SPECTRO智能閥系統升級套件和用于遠程監控的便攜式攝像頭。

斯派克的全球AMECARE Performance Service售后服務計劃保障斯派克儀器的可靠運行，并最大限度延長儀器工作壽命。由來自50個國家/地區的數百名經驗豐富的服務工程師負責支持該計劃，能確保您的設備在使用期間保持最佳性能，幫助客戶獲取最大投資回報。AMECARE Performance Service可提供的服務種類包括在線/現場演示、預見性維護、性能升級、應用解決方案、專家咨詢、定制培訓和終身維修等。此外，斯派克的SPECTRO PROTEKT遠程監控服務可以提供儀器運行時的故障監測和報警，只需取得用戶授權。